日本KETT LW-990膜厚計(jì)測(cè)試臺(tái)人工測(cè)量誤差減小，對(duì)測(cè)量管狀物很有效。

日本KETT LW-990膜厚計(jì)測(cè)試臺(tái)產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

LW-990是通過(guò)將膜厚計(jì)探針或厚度計(jì)的升降部的整體式膜厚計(jì)安裝于LW-990中，由于膜厚度測(cè)量?jī)x的測(cè)里開(kāi)始與測(cè)童對(duì)象接觸--恒定的力和角度，人工測(cè)量誤差減小，并且可以以高的重復(fù)精度測(cè)量來(lái)執(zhí)行。如要測(cè)量的管狀物，這是特別有效的。探針的膜厚計(jì)型，和支持雙式膜厚計(jì)的LZ-990相對(duì)應(yīng)。

日本KETT LW-990膜厚計(jì)測(cè)試臺(tái)技術(shù)參數(shù)：

尺寸重量：150 (W) X210 (D) X280 (H) mm、2. 5kg

對(duì)應(yīng)傳感器：

探頭類(lèi)型：LEP和LHP- 20/20C/30/30C/ J

機(jī)身整體式：LZ-990